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รายละเอียดคำ

電子顕微鏡

電子顕微鏡（でんしけんびきょう）とは、通常の顕微鏡（光学顕微鏡）では、観察したい対象に光（可視光線）をあてて像を得るのに対し、光の代わりに電子（電子線）を用いる顕微鏡のこと。電子顕微鏡は、物理学、化学、工学、生物学、医学（診断を含む）などの各分野で広く利用されている。 光学顕微鏡

คำที่เกี่ยวข้อง

顕微鏡

顕微鏡は、まだ性能で外国製に及ばなかった。これに触発された山下長は、世界に通用する顕微鏡の開発を目指し、高千穂製作所（後のオリンパス）を創立した。 光学顕微鏡 (OM) 実体顕微鏡 蛍光顕微鏡 レーザー走査顕微鏡 共焦点レーザー顕微鏡 電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡 (TEM) 走査型電子顕微鏡 (SEM)

イオン顕微鏡

顕微鏡 (STM)の原理を応用して試料表面の形状と電解質等のイオン流の2次元分布情報を可視化する。 ヘリウム原子を試料に照射して細部の構造を可視化する。微細加工も可能。 ^ a b “電界イオン顕微鏡・電界放射顕微鏡”. 2017年3月8日閲覧。 ^ 中村勝吾、「電界イオン顕微鏡による表面構造の研究」『日本結晶学会誌』

ホログラフィック顕微鏡

ホログラフィック顕微鏡 (DHM) は、デジタルホログラフィの像再生計算によって得られる複素振幅分布のうち、位相成分を抽出して再生像として用いることで、ナノメートルオーダの高さ変化や屈折率変化の検出が可能になった。 被写界深度が従来の光学顕微鏡よりも深いので3次元像を記録でき、歪の無い自由焦点画像を再生可能。

I5M顕微鏡

対物レンズからレーザーのような位相の揃った光源ではなくアークランプのような位相の揃わない光源でケーラー照明される。対物レンズは高開口(NA = 1.2)の液浸レンズが使用され、対向する対物レンズから入射した画像を重ねることにより干渉像を得る。2つの対物レンズ

テラヘルツ顕微鏡

林冠廷, 金鮮美, 小宮山進、「パッシブかつナノスケールなTHz顕微技術」 『生産研究』 2013年 65巻 6号 p.811-815, doi:10.11188/seisankenkyu.65.811 紀和利彦. "テラヘルツ波ケミカル顕微鏡の開発とケミカルセンサへの応用." Chemical sensors

プラズモン顕微鏡

プラズモンによって画像を得る表面プラズモン顕微鏡では試料表面の屈折率分布、形状、膜厚などを可視化する。走査型近接場光顕微鏡と同様に試料にレーザー光を照射して近接場光と試料境界界面の波数が一致すればプラズモン共鳴が生じて反射光のエネルギーは著しく減衰して反射率の角度分布に窪みができる。共鳴

透過型電子顕微鏡

透過型電子顕微鏡（とうかがたでんしけんびきょう、Transmission Electron Microscope; TEM）とは、電子顕微鏡の一種である。観察対象に電子線をあて、透過してきた電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡のこと。また、電子の波動性を利用し、試料内での電子の回折

走査型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: scanning electron microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、透過電子

低温電子顕微鏡法

低温電子顕微鏡法（ていおんでんしけんびきょうほう、Cryo-electron microscopy、cryo-EM、クライオ電子顕微鏡法）は透過型電子顕微鏡法の一種で、試料を低温（多くの場合液体窒素の温度）において解析する手法である。構造生物学や細胞生物学の分野において用いられる。

静電気力顕微鏡

る。探針の変位は光ファイバーを利用した干渉計で測定される。 試料は樹脂や無機化合物のような絶縁体が対象で、高圧パルス電源で探針から電圧を印加して試料表面が帯電することにより生じた静電気力を計測時に探針を接地した状態の非接触原子間力顕微鏡で走査して計測する。帯電していない領域ではファンデルワールス力の

電界放射顕微鏡

106204. ISSN 0031-9007. https://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.130.106204.  顕微鏡 電界イオン顕微鏡 - 電界放出顕微鏡とは逆の極性に電圧を印加して探針から放出されるイオンを観測する 弾道電子放出顕微鏡 表示 編集

弾道電子放出顕微鏡

に到達するのでこのトンネル電流を測定することで通常のSTM像が取得できる。一方、金属層に到達した電子の一部は、金属層の膜厚が金属層における電子の平均自由行路長より少ない場合において、弾道的(ballistic)に金属層をすり抜けて下の半導体コレクター層に到達する。 V≧φの場合、IcはVに対して以下の式が成り立つ。

3次元電子顕微鏡法

体像を再構成する必要がある（3次元再構成法）。このような、電子顕微鏡法と3次元再構成法を組み合わせた、物体の構造解析法を3次元電子顕微鏡法と呼ぶ。 関連する画像処理法としては、単粒子解析法、電子線トモグラフィー法、対称性を用いた構造解析、電子線結晶解析法が挙げられる。いずれも、２次元投影像もしくは回

蛍光顕微鏡

蛍光の発生（自家蛍光、後述）の少ない対物レンズが必要である。この目的に開発された対物レンズはフルオール(Fluor/Fluar,ドイツ語で蛍石を意味する・FLとも略される)と呼ばれる。 蛍光観察のための特殊な染色法として、蛍光染色・化学的蛍光染色・抗体蛍光染色などが行われる。 蛍光染色

偏光顕微鏡

構造上の最大の特徴は、コンデンサ部および対物レンズと接眼レンズ間の二箇所に配置された2個の偏光板である。コンデンサ部の偏光子によって試料に直線偏光を照射することを可能にしている。 1834年または1845年に英国で発明されたとされる。 1. 光源

実体顕微鏡

実体顕微鏡は、生物学、顕微鏡手術（英語版）、脳神経外科手術、眼科では眼底検査用の細隙灯顕微鏡（英語版）、法医学の解剖、歯科技工、固体試料表面の観察、時計製造（英語版）、回路基板製造や検査、破壊検査での破断面観察のような接近作業を行うために使用される。製造業では、製造、検査、品質管理などに広く使われている。昆虫学での生態の

限外顕微鏡

限外顕微鏡（げんがいけんびきょう）は特殊な照明装置を用いた、非常に小さな粒子を観察できる顕微鏡。粒子の直径が可視光の波長（約500ナノメートル）近辺もしくはそれ以下の場合、通常の照明装置では粒子を観察できないが、限外顕微鏡法は光の反射ではなく、光の散乱に基づいているため、観察が可能である。

光学顕微鏡

光学顕微鏡（こうがくけんびきょう）は、可視光線および近傍の波長域の光を利用する、顕微鏡の一種。単に顕微鏡と言う場合、これを指す。 光学顕微鏡は、ふつう試料に光を照射して、透過光や反射光あるいは蛍光など試料が発する光をレンズによって結像させて観察する。観察可能な倍率は一般に数十倍から数百倍、最高で2千倍程度。

X線顕微鏡

X線顕微鏡（Xせんけんびきょう）とは、X線をプローブとして観察する顕微法の総称である。 可視光に比べて波長の短いX線を使用するため、空間分解能が高い画像を得ることができる可能性があり、注目されている。観測法としては結像型・走査型が、観測手段によりX線吸収・位相変化・蛍光X線